半導體膜厚測試儀-OPTM 測量目標膜的絕對反射率，實現高精度膜厚和光學常數測試！ （分光干渉法）

LMI系列成像亮度計成像亮度計的分辨率從200萬像素到2000萬像素可選，可滿足不同發光樣品的測試要求。 多次曝光和ND中性濾光片的應用，可實現1000000：1的高對比度； 用戶可通過ROI功能獲取局部圖像的數據信息，排除非目標區域的干擾。

CMI系列成像亮度色度計的像素分辨率從200萬像素至3600萬像素可選，可滿足不同應用的測試需要。

藍菲光學VCSEL光學測試方案使用*的Spectralon 、Permaflect或Spectraflect積分球對器件發光進行收集。該材料對紫外-可見-紅外范圍內的光都具有*的光譜反射率，可分別滿足研發端和產線段對高低溫度測試和產線端設備免維護性的要求。此外，通過選擇不同尺寸的積分球，可以滿足從毫瓦到千瓦量級的激光功率測試。

科技農場中光照光譜技術、環控與植物的生長息息相關。 優先掌握植物生長脈絡就能提前實現全天候高效生長契機。 PG200N植物照明光譜檢測儀突破傳統光量子計聚焦于光源分析，以使用者體驗為出發點擴充軟硬體功能

OLED顯示模組壽命測試系統 平鋪式模組壽命可搭載亮度計直接量測發光膜組的真實數值，在研發和過程數據評判工作中，可起到重要作用。

便攜式光譜照度計MK350S Premium特點 ? 符合JIS A*& DIN B級 照度計需求 ； ? 自動暗校正-確保每次量測質量具有穩定信度&精準 ； ? 量測動態范圍更寬，速度更快，更精準 ； ? 新增頻閃風險評級圖-IEEE 1789 & Energy Star，圖解頻閃落點系數為何； ? 藍光危害評估指數-客觀準確地評估LED燈具淺在的藍光風險值，將人眼傷害降到低；

便攜式光譜照度計/光度計MK350N Premium?是一款結合高科技、工業設計于一身的專業分光光譜計。除Lux 范圍擴增至100k lux 外，量測速度縮短3s 內，光源量測參數高達40 種選項，供用戶客制量測清單

頻閃測試儀LabFlicker 儀器和你電腦上的Viso 燈光檢查軟件構成了一個便攜而精確的閃爍測量解決方案。所有相關的頻閃圖表和指數——包括SVM（頻閃可視參數）和PstLM（短時間閃變值）——都會顯示出來。原始的頻閃數據可以下載下來進行更多深入性的研究。

太陽光譜輻射度計SolarRad它具備對太陽光譜300-1100nm波長范圍的的特性測量（200-1700nm可選）。系統的核心部分是StellarNet的BLACK-Comet紫外增強凹面光柵光譜儀。

Stellar-RAD手持式光譜輻射度計是一款研究等級的光譜儀，無需額外的設備，簡單操作即可用于光測量。這款溯源于NIST的系統可用于測量光譜輻照度和照度，相關色溫（CCT），xy色度，PAR等。

藍菲光學LFFM-20高速頻閃測試儀根據當今上測試標準而進行設計，采用高速功率計對光信號進行采樣，通過全新的軟件進行數據分析和處理，能夠滿足研發到生產，不同類型的測試需求。